品名：電解式膜厚計

型號：CT-2

廠商：日本電測株式會社

特性：

1．可作各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測量

2．除平板形外，還可測量圓形、棒形（細線）等各種形狀

3．可測量0.01～300 um的鍍層

4．可高精度測量其它方式不易測量的三層以上的鍍層

5．可對測量數據進行統計處理，以及和主機進行共同管理

6．可制作非破壞式膜厚儀的標準板。

7．可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度。

8．由微處理器來進行計算、儲存、思考。

9．本膜厚儀彩和全對話式操作。因此，只要依照測量條件來進行設定就可測量情況，非常簡單。

10．由于可儲存64個不同的測量情況，所以有相同的測量情況時，就不必再進行設定。每個測量條件可儲存999個數據。

11．我可設定四層鍍層，而每一層均可進行統計處理。例如：測量條件、平均值、*大值、*小值、上下限值、直方圓均可計算并可由打印機印出，制作測量報告很容易。

12．每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動標準的選擇，均可由微處理器自動判斷、設定。

13．標準板校正值的計算和設定可自動進行，非常簡單。

14．測量數據可由通訊網絡來傳輸，所以能和主機共同進行數據管理。

15．由于分解速度差跑分得很細，因此可縮短測量時間。

16．可分離測量銅（合金）上的錫（合金）鍍層間的擴散（合金）層。

17．有表面活性的功能，所以表面處理很容易。我們獨特的測量臺（**）是利用條形彈簧方式，因此操作非常容易。